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表型组学是在基因组水平上系统研究生物或细胞在不同环境条件下所有表型的学科。近年来,随着高通量植物表型测量技术的快速发展,植物表型组学研究获得快速发展。结合基因组学、生物信息学和大数据计算,植物表型组学将极大地促进功能基因组学和作物分子育种与高效栽培的进程。为了促进广大科研工作者和育种家加深对植物表型组学和表型技术的深入了解,定于2017年12月1-4日在北京召开全国植物表型组学研讨会。会议将邀请国内外表型组学相关领域具有重要学术影响的专家学者进行学术报告。 
会议时间:2017年12月1日报到,2-4日研讨会
会议地点:中国科学院遗传与发育生物学研究所1号楼会议室
主办单位:中国遗传学会表型组学专业委员会 
                        中国科学院遗传与发育生物学研究所
大 会 报 告 人
Fred Baret
Institut Nationale de la Recherche Agronomigue, France
Svend Christensen
Department of Plant and Environmental Sciences, University of Copenhagen, Danmark
Stijn Dhondt
Ghent University, Belgium
Malcolm Hawkesford
Rothamsted Research, UK
Tony Pridmore
University of Nottingham, UK
Thomas Georg Roitsch
University of Copenhagen, Denmark
Ulrich Schurr
Forschungszentrum Jülich/ University of Bayreuth, Germany
Xavier Sirault
(High Resolution Plant Phenomics Centre, Australia) Arejen van Tunen (Keygene, Netherlands
Arejen van Tunen
Keygene, Netherlands
Ji Zhou
Norwich Research Park, UK
白 洋
中国科学院遗传与发育生物学研究所
邓兴旺
北京大学
高 翔
南京大学
冯献忠
中国科学院东北地理与农业生态研究所
郭庆华
中国科学院植物研究所
贺冬仙
中国农业大学水利与土木工程学院
赖景盛
中国农业大学
凌宏清
中国科学院遗传与发育生物学研究所
税光厚
中国科学院遗传与发育生物学研究所
王儒敬
中国科学技术大学
王喜庆
中国农业大学
吴芳芳
中国科学院植物研究所
熊立仲
华中农业大学
张 弘
上海泽泉科技股份有限公司
 

会议官网:http://www.plantphenomics.cn/
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联系人:于老师      邮箱:igdb.meetings@genetics.ac.cn     电话:010-64803441

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